Просмотр по ключевому слову Kelvin probe microscopy


Показаны результаты 1 - 1 из 1
Год выпуска Название Автор(ы) Тип Просмотров Загружено
2015 Initiation of Polarized State in the Tantalum Oxide Thin Films Grown by Magnetron Sputtering on a Substrate of Monocrystalline Silicon (100) Followed by Argon and Oxygen Ions Goncharov, I.Yu.; Kolesnikov, D.A.; Zykova, A.V.; Safonov, V.I. Article 20846141 22528126